公司可針對芯片和元器件等提供可靠性測試、壽命評估、失效分析以及自主可控驗證等服務，輔助企業(yè)和用戶開展質量驗證和供應商篩選。
適用產品類型
■ 芯片
■ 元器件
檢測能力
環(huán)境試驗
可開展各類型電子元件的氣候環(huán)境試驗、機械環(huán)境試驗、可靠性試驗
規(guī)約試驗
可開展芯片等電子元器件的國產化驗證工作
檢測能力范圍
環(huán)境試驗
GB/T 2423 電工電子產品環(huán)境試驗系列標準
GB/T 4208-2017 外殼防護等級
GB/T 29309-2012電工電子產品加速應力試驗規(guī)程 高加速壽命試驗導則（含隨機振動）
GB/T 2689.1-1981 恒定應力壽命試驗和加速壽命試驗方法總則
GB/T 2689.2-1981 壽命試驗和加速壽命試驗的圖估計法（用于威布爾分布）
規(guī)約試驗
ZHKP/FF-008-002-2024/0 電氣設備元器件供應鏈可靠性及元器件可控率等級判定方法
業(yè)務咨詢
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陳新美
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